Texas Instruments 配給業者 www.qycomp.com SN74BCT8374ADWR
製造業者識別番号SN74BCT8374ADWR
メーカーTexas Instruments
製品カテゴリロジック - 特殊ロジック
利用可能な数量14140 Pieces
単価メールで見積もり ([email protected])
説明IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
鉛フリーステータス/ RoHSステータス鉛フリー/ RoHS準拠
湿気感受性レベル(MSL) 1 (Unlimited)
生産状況(ライフサイクル)In Production
納期1-2 Days
日付コード(D / C)New
データシートダウンロード SN74BCT8374ADWR.pdf

製品の属性

部品番号 SN74BCT8374ADWR
メーカーリードタイム 6-8 weeks
調子 New & Unused, Original Sealed
部品ステータス Obsolete
ロジックタイプ Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
供給電圧 4.5 V ~ 5.5 V
ビット数 8
動作温度 0°C ~ 70°C
取付タイプ Surface Mount
パッケージ/ケース 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤデバイスパッケージ 24-SOIC
重量 0.001 KG
応用 Email for details
交換部品 SN74BCT8374ADWR

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