Texas Instruments Distributeur www.qycomp.com SN74BCT8374ADWR
Référence fabricantSN74BCT8374ADWR
FabricantTexas Instruments
catégorie de produitLogique - Logique spécialisée
quantité disponible14140 Pieces
Prix unitaireCitation par email ([email protected])
La descriptionIC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Statut sans plomb / Statut RoHSSans plomb / Conforme RoHS
Niveau de sensibilité à l'humidité (MSL) 1 (Unlimited)
Statut de production (cycle de vie)In Production
Heure de livraison1-2 Days
Code de date (D / C)New
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Attributs du produit

Numéro d'article SN74BCT8374ADWR
Délai d'exécution du fabricant 6-8 weeks
État New & Unused, Original Sealed
État de la pièce Obsolete
Type de logique Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tension d'alimentation 4.5 V ~ 5.5 V
Nombre de bits 8
Température de fonctionnement 0°C ~ 70°C
Type de montage Surface Mount
Paquet / cas 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Package de périphérique fournisseur 24-SOIC
Poids 0.001 KG
Application Email for details
Pièce de rechange SN74BCT8374ADWR

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Texas Instruments Distributeur

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