Texas Instruments Verteiler www.qycomp.com SN74BCT8374ADWR
Hersteller-TeilenummerSN74BCT8374ADWR
HerstellerTexas Instruments
ProduktkategorieLogik - Speziallogik
verfügbare Anzahl14140 Pieces
StückpreisZitat per E-Mail ([email protected])
BeschreibungIC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Bleifreier Status / RoHS-StatusBleifrei / RoHS-konform
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsgrad (MSL) 1 (Unlimited)
Produktionsstatus (Lebenszyklus)In Production
Lieferzeit1-2 Days
Datumscode (D / C)New
Datenblatt herunterladen SN74BCT8374ADWR.pdf

Produkteigenschaften

Artikelnummer SN74BCT8374ADWR
Hersteller lieferzeit 6-8 weeks
Bedingung New & Unused, Original Sealed
Teilstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Versorgungsspannung 4.5 V ~ 5.5 V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / Fall 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 24-SOIC
Gewicht 0.001 KG
Anwendung Email for details
Ersatzteil SN74BCT8374ADWR

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