Texas Instruments Distribuidor www.qycomp.com SN74LVTH182512DGGR
Número da peça do fabricanteSN74LVTH182512DGGR
FabricanteTexas Instruments
Categoria de ProdutoLógica - Lógica Especializada
Quantidade disponível139750 Pieces
Preço unitárioCotação por e-mail ([email protected])
DescriçãoIC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Status sem chumbo / status de RoHSSem chumbo / RoHS complacente
Nível de sensibilidade à umidade (MSL) 1 (Unlimited)
Status de produção (ciclo de vida)In Production
Tempo de entrega1-2 Days
Código de Data (D / C)New
Download da folha de dados SN74LVTH182512DGGR.pdf

Atributos do produto

Número da peça SN74LVTH182512DGGR
Tempo de espera do fabricante 6-8 weeks
Condição New & Unused, Original Sealed
Status da Parte Active
Tipo de lógica ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Tensão de alimentação 2.7 V ~ 3.6 V
Número de bits 18
Temperatura de operação -40°C ~ 85°C
Tipo de montagem Surface Mount
Pacote / Caso 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Pacote de dispositivos de fornecedores 64-TSSOP
Peso 0.001 KG
Aplicação Email for details
Peça de reposição SN74LVTH182512DGGR

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Texas Instruments Distribuidor

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