Numero di parte del produttore | SN74BCT8240ANT |
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fabbricante | Texas Instruments |
Categoria di prodotto | Logici - Logica speciale |
Quantità disponibile | 27300 Pieces |
Prezzo unitario | Preventivo per email ([email protected]) |
Descrizione | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP |
Stato senza piombo / Stato RoHS | Senza piombo / RoHS |
Moisture Sensitivity Level (MSL) | 1 (Unlimited) |
Stato di produzione (ciclo di vita) | In Production |
Tempo di consegna | 1-2 Days |
Data Code (D / C) | New |
Scarica il foglio dati | SN74BCT8240ANT.pdf |
Numero di parte | SN74BCT8240ANT |
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Tempo di consegna del produttore | 6-8 weeks |
Condizione | New & Unused, Original Sealed |
Stato parte | Obsolete |
Tipo di logica | Scan Test Device with Inverting Buffers |
Tensione di alimentazione | 4.5 V ~ 5.5 V |
Numero di bit | 8 |
temperatura di esercizio | 0°C ~ 70°C |
Tipo di montaggio | Through Hole |
Pacchetto / caso | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Pacchetto dispositivo fornitore | 24-PDIP |
Peso | 0.001 KG |
Applicazione | Email for details |
Pezzo di ricambio | SN74BCT8240ANT |
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