| Hersteller-Teilenummer | SN74ABTH18652APM |
|---|---|
| Hersteller | Texas Instruments |
| Produktkategorie | Logik - Speziallogik |
| verfügbare Anzahl | 465826 Pieces |
| Stückpreis | Zitat per E-Mail ([email protected]) |
| Beschreibung | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
| Bleifreier Status / RoHS-Status | Bleifrei / RoHS-konform |
| Feuchtigkeitsempfindlichkeitsgrad (MSL) | 1 (Unlimited) |
| Produktionsstatus (Lebenszyklus) | In Production |
| Lieferzeit | 1-2 Days |
| Datumscode (D / C) | New |
| Datenblatt herunterladen | SN74ABTH18652APM.pdf |
| Artikelnummer | SN74ABTH18652APM |
|---|---|
| Hersteller lieferzeit | 6-8 weeks |
| Bedingung | New & Unused, Original Sealed |
| Teilstatus | Active |
| Logiktyp | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
| Versorgungsspannung | 4.5 V ~ 5.5 V |
| Anzahl der Bits | 18 |
| Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
| Befestigungsart | Surface Mount |
| Paket / Fall | 64-LQFP |
| Lieferantengerätepaket | 64-LQFP (10x10) |
| Gewicht | 0.001 KG |
| Anwendung | Email for details |
| Ersatzteil | SN74ABTH18652APM |
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